品牌:QVI VIEW
X,Y,Z 行程 (mm):300x300x25
产地:美国
保修期:1年
浏览量:4381次
- 价 格:面议
- 起订量:1 台
- 发货地:广东 东莞市
- 发货期限:30天内发货
- 供货总量:100 台
- 有效期至:长期有效
- 最后更新:2023-09-12 19:26
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东莞市天测光学设备有限公司
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品牌名称:东莞市天测光学设备有限公司
MicroLine-300是一款桌上型半自动CD测量系统。
主要技术参数:
◆ 测量范围(XYZ):标准:200×200×25mm;可选:300x300x25
◆ 视场内测量精度:10nm(100X 镜头);Z轴ju jiao范围:25 mm
◆ 视场内测量范围:0.5um~400um;
◆ 视场内测量重复性(100x 物镜): 晶圆上<0.010um(1δ);
掩模板上0.005um(1δ);
◆ 承重:2kg
◆ 标配镜头10x,可选镜头:5X, 20X, 50X, 100X
MicroLineTM 300是一款高性能测量晶圆、光罩、MEMS和其他微加工设备等关键尺寸的自动化测量系统。该系统配备了高质量光学显微镜和精密移动平台,可对200mm的晶圆上0.5µm到400µm的特征尺寸进行全自动的精密视场测量。
n 200 x200mm精密X-Y平台
n 基于视觉的自动ju jiao获得某佳影像质量
n 自动照明可编程光强
n 用于测量透明层、不规则边缘的线、厚膜等的强劲性能
n 完全可编程的序列,包括自动ju jiao和关键尺寸测量
n 电动的6目物镜转换器,软件控制
n 可选的透射照明
技术规格:
- 测量行程: 200 x 200 x25mm(XYZ)
- 平台运行: 交叉滚轴手动同轴定位和快速释放
- 视场内的测量精度: 0.010µm (用100x物镜)
- 特征尺寸: 视场内0.5µm - 400µm
- FOV测量重复性: <0.010µm on wafers (用100x物镜)
<0.005µm on photomasks (用100x物镜)
- 照明: 石英卤素灯, 反射光
自动照明
- 低噪音CCD VGA格式摄像头
- 图像处理60帧每秒
MicroLine 300的典型应用包括:
l 晶圆
l 光罩
l MEMS
l 微型组件
测量类型:
n 关键尺寸:
线宽 Linewidth
节距 Pitch
间隙 Spacing
n Overlay
Multi-layer registration
Box in box
Circle
Edge roughness
Butting error
东莞市天测光学设备有限公司
进入公司首页东莞市天测光学设备有限公司(TianCe Optical Equipment Co.,LTD.)是一家专业从事测量仪器销售和服务的高新技术企业。公司坐落在中国制造业名城广东省东莞市.公司本着“诚信、专业、务实、创新”的经营理念,坚持“以质量求生存、以信誉求发展”为企业宗旨,为客户提供高质低价的产品和服务,获得珠三角客户广泛好评。 公司专业从事美国QVI产品、法国Keron 关节臂三坐标测量仪、等国际著名品牌测量仪器的销售、安装、维修、校正、保养、升级等服务。公司拥有完善的样品测试中心和方案评估实验室,可为客户提供完善的测量解决方案,公司附设1200...
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