实验室专用EL检测仪
品牌：武汉曜华
技术参考： 支持210mm大尺寸硅片
认证标准：满足IEC 61215/61730、UL 1703等国际认证
组件类型：兼容单玻(3.2mm玻璃)/双玻(2.5+2.5mm)组件，功率范围450W-670W
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- 价 格：面议
- 起订量：1 台
- 发货地：湖北 武汉市
- 发货期限：3天内发货
- 供货总量：1000 台
- 有效期至：长期有效
- 最后更新：2026-02-25 09:50
品牌名称：
核心工作原理
基于半导体电致发光效应：对光伏电池 / 组件施加可控正向偏压，PN 结电子 - 空穴复合释放 800–1100 nm 近红外光；正常区域发光均匀，隐裂、断栅、虚焊、黑心片等缺陷区因载流子传输 / 复合受阻，呈现暗线 / 暗斑；高灵敏度红外相机 + 暗室环境捕捉信号并生成可视化图像，实现无损精准检测。
系统核心组成
程控高精度电源：恒流 / 恒压输出，电压 0–60 V/1000 V 可选，电流精度达 0.1 A/10 mA，适配电池片、电池串、成品组件；具备过流 / 过压 / 反接保护
专业红外成像模块：制冷型 CCD/CMOS 相机（量子效率 > 85%），像素 1600 万–6000 万，配 850/940 nm 带通滤光片、NIR 工业镜头；成像时间 0.3 s–2 s 可调，可识别 < 30 μm 的微裂纹
密闭暗室 / 屏蔽舱：消除环境光干扰，部分集成温控，保证数据稳定性与重复性
智能分析软件：支持缺陷自动识别、分级、面积量化、报告生成；可对接 MES / 数据库，实现数据追溯与统计分析
实验室机型的核心优势（对比便携款）
更高成像精度与信噪比，适合研发级微缺陷研究；
稳定的暗室 + 恒温环境，数据重复性好；
支持连续测试、多工位联动、长时间运行；
可集成 PL（光致发光）、IV 测试，实现多参数协同分析
关键技术参数与选型
| 参数项 | 实验室推荐指标 | 影响 |
|---|---|---|
| 相机像素 | ≥1600 万，制冷型 | 决定缺陷分辨率 |
| 电流精度 | ≤0.1% F.S. | 小电流下的微弱发光捕捉 |
| 成像时间 | 0.3–2 s 可调 | 兼顾效率与信噪比 |
| 暗室漏光 | <0.01 lux | 避免杂光影响 |
| 缺陷识别 | 可检 < 30 μm 微裂纹，自动分类≥12 种缺陷 | 满足研发 / 质控需求 |
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